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東莞市大凡光學科技有限公司
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污點線規(guī)是一種用于檢測產(chǎn)品中的污點、劃痕、線條等缺陷的工具。以下是關(guān)于污點線規(guī)的詳細信息和特點：定義與用途：污點線規(guī)（也稱為點規(guī)污點規(guī)、點線規(guī)、菲林尺等）主要用于產(chǎn)品外觀檢查，以判定污點、表面劃痕等缺陷是否符合所要求的精度范圍。它通過將被測產(chǎn)品的表面與污點線規(guī)上的標準點、線、面進行對照，判斷其大小、長短是否在允許的范圍內(nèi)，從而確定產(chǎn)品是否合格。規(guī)格與參數(shù)：測量黑點直徑范圍：通常為0.10-3.00mm。測量面積范圍：一般為0.03-0.5平方毫米（m㎡）。線幅范圍：0.08-1.50mm。精度：根據(jù)具體規(guī)格而定，但一般精度較高，小線寬可達0.01mm，點大小可達0.1mm。使用方法：將污點線規(guī)（A4或四分之一A4大?。┓胖糜诒粶y產(chǎn)品的表面。對照污點線規(guī)上的標準點、線、面，判斷產(chǎn)品上的污點、劃痕等缺陷是否在規(guī)定范圍內(nèi)。若缺陷大小在標準范圍內(nèi)，則產(chǎn)品合格；否則不合格。
點線規(guī)測量卡是一種用于測量、對比和判定產(chǎn)品表面點、線、面等缺陷的工具。以下是關(guān)于點線規(guī)測量卡的詳細信息和特點，按照清晰的結(jié)構(gòu)進行分點表示和歸納：定義與用途點線規(guī)測量卡（也稱為點規(guī)線規(guī)卡、點規(guī)污點規(guī)面積對比卡等）主要用于電子、光電、通信等行業(yè)中產(chǎn)品的外觀檢查。它通過對比產(chǎn)品表面的點、劃痕等缺陷與測量卡上的標準點、線、面，來判斷這些缺陷是否超過規(guī)定的尺寸范圍。規(guī)格與參數(shù)點的大小范圍：從0.1mm到3.00mm不等，用于測量和對比不同大小的點缺陷。線的長度范圍：包括0.02mm， 0.05mm， 0.08mm， 0.1mm， 0.2mm，新北點線規(guī)測量卡， 0.3mm， 0.5mm，點線規(guī)測量卡定做， 0.7mm， 1.0mm， 3.0mm等多種規(guī)格，用于測量和對比不同長度的線條缺陷。面的大小范圍：從0.08mm2到1.5mm2不等，點線規(guī)測量卡工廠，用于測量和對比不同面積的面缺陷。尺寸：常見的有點線規(guī)A4尺寸（與標準A4紙大小相同）以及其它特定尺寸，如四分之一A4大小等，方便攜帶和使用。
溫馨提示：以上是關(guān)于點線規(guī)測量卡定做-大凡光學-新北點線規(guī)測量卡的詳細介紹，產(chǎn)品由東莞市大凡光學科技有限公司為您提供，如果您對東莞市大凡光學科技有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應商或者讓供應商主動聯(lián)系您 ，您也可以查看更多與光學儀器相關(guān)的產(chǎn)品！
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